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        上海電科智能裝備科技有限公司
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        CDM模式靜電測試系統 CDM-I6K

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        過去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動化程度越來越高,器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內倒出帶電,在接觸或處理器件如由機器手或人取出時會時器件會發生放電,在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測試原理,試驗方法,測試設備都完全不同于HBM和MM。CDM-I6K靜電試驗測試系統是按照標準設計的專門測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩定性好(時漂小于0.1%)、價格低等優點。
        產品詳情

        應用領域

        芯片、IC電路、元器件等……

        產品標準

        ESD STM5.3.1—199

        技術特點

        本系統用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構成,可實現帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

        技術指標


        輸出電壓

        0.01~6kV ±5%

        電壓極性

        正、負或者正負交替。

        放電間隔

        20~999s

        放電次數

        1~999

        使用環境

        溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

        電源

        單相AC85~265V,50/60Hz

        外形尺寸(mm)

        主機350×260×160(D×W×H)

        重量

        約7.5kg



        CDM模式靜電測試系統 CDM-I6K
        CDM模式靜電測試系統 CDM-I6K

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        過去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動化程度越來越高,器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內倒出帶電,在接觸或處理器件如由機器手或人取出時會時器件會發生放電,在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測試原理,試驗方法,測試設備都完全不同于HBM和MM。CDM-I6K靜電試驗測試系統是按照標準設計的專門測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩定性好(時漂小于0.1%)、價格低等優點。
        021-52700654
        產品詳情

        應用領域

        芯片、IC電路、元器件等……

        產品標準

        ESD STM5.3.1—199

        技術特點

        本系統用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構成,可實現帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

        技術指標


        輸出電壓

        0.01~6kV ±5%

        電壓極性

        正、負或者正負交替。

        放電間隔

        20~999s

        放電次數

        1~999

        使用環境

        溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

        電源

        單相AC85~265V,50/60Hz

        外形尺寸(mm)

        主機350×260×160(D×W×H)

        重量

        約7.5kg



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